전자 범용 테스트 기계의 힘 측정 시스템

전통적인 기계 기술과 현대 전자 기술의 조합은 보편적 인 테스트 기계를 생산했습니다. 범용 테스트 머신은 인장, 압축 및 다양한 재료에 대한 굽힘과 같은 다양한 기계적 성능 테스트를 수행 할 수 있습니다. 범용 테스트 머신은 넓은 측정 범위, 높은 정확도 및 빠른 응답의 특성을 가지고 있습니다. 신뢰할 수있는 작업 및 고효율, 실시간으로 테스트 데이터를 표시 및 기록 및 인쇄 할 수 있습니다.

전통적인 기계 기술 및 현대적인 전자 기술과 결합하여 범용 테스트 머신을 생산하는 범용 테스트 머신은 다양한 재료 인장, 압축, 굽힘 및 다수의 기계적 특성 테스트 일 수 있으며, 범용 테스트 머신은 넓은 측정 범위, 높은 정밀도, 빠른 응답 특성을 갖습니다. 신뢰할 수있는 작동, 고효율, 그러나 테스트 데이터는 실시간 녹화 및 인쇄로 표시됩니다.

전자 범용 테스트 기계의 힘 값 측정

전자 범용 테스트 기계 힘 측정

1. 힘 값 측정

1 힘 측정

측정은 힘 센서, 앰프 및 데이터 처리 시스템을 통해 완료됩니다. 일반적으로 사용되는 힘 센서는 스트레인 게이지 센서입니다. 외부 힘이 센서에 작용하면 센서 출력 전압의 변화가 발생하고 센서의 전압 출력은 앰프 및 데이터 처리 시스템을 통과합니다. 전기 신호를 값, 즉 적용된 힘의 크기로 변환

측정을 완료하기위한 힘 측정 센서, 앰프 및 데이터 처리 시스템. 힘 센서는 센서의 출력 전압의 변화로 인해 발생하는 센서의 외부 힘과 앰프 및 데이터 처리 시스템을 통한 센서 출력 전압으로 인해 가장 일반적으로 사용되는 스트레인 게이지 센서입니다. 전기 신호는 숫자, 즉 응용 분야로 변환됩니다.

2. 변형 측정

2 변형 측정

변형 측정 및 설치로 인한 변형을 측정하는 데 사용됩니다.

변형 측정 설정을 측정하기 위해 실험 중에 생성 된 시편 변형을 측정하는 데 사용됩니다.

설치에는 두 개의 척이 있으며, 일련의 전송 메커니즘을 통해 측정 설치의 상단에 설치된 광전 인코더에 연결됩니다. 두 척 사이의 간격이 변할 때, 광전자 인코더의 축이 회전되게되고 광전자 인코더는 펄스 신호 출력을 갖습니다. 그런 다음 마이크로 컨트롤러는이 신호 처리를 중지하고 샘플의 변형량을 얻을 수 있습니다.

두 개의 척 간격이 다를 때, 두 개의 척 간격이 다를 때, 광전자 인코더의 축 회전은 펄스 신호를 출력 할 수있다. 그런 다음 신호 처리, 변형을 신호 처리하는 MCU를 샘플로 계산할 수 있습니다.

3. 빔 변위 측정

3 빔 변위 측정

원리는 변형 측정과 거의 동일하며, 광전자 인코더의 출력 펄스 수를 측정하여 빔의 변위가 얻어진다.

원리는 대략 동일의 변형 측정과 동일하며 빔의 변위를 얻기 위해 광전자 인코더 출력 숫자의 측정을 통한 것입니다.