전자 유니버설 테스트 기계 비품의 유형

전자 범용 테스트 기계의 중요한 액세서리 - 비품. 그들은 인장 압축 및 굽힘 저항에 대한 기존 실험에서 고정 고정물을 가지고 있습니다. 많은 특수 자료, 특수 모델 또는 고객의 특수 요구 사항을 사용하려면 실험을 완료하기 위해 다양한 보조 도구를 설계해야합니다.
인장 테스터의 클램프는 테스트 중 잠금 도구이며 클램프의 품질은 테스트의 성공 또는 고장에 직접적인 영향을 미칩니다. 인장 테스터의 클램프에는 구조적 제약이 없습니다. 실험에 따르면, 클램프의 구조에는 특정 간격이 있습니다. 큰 실험력의 경우, 경사면이 일반적으로 사용되며 실험력이 증가함에 따라 클램핑 력이 그에 따라 증가합니다.
비품은 쐐기 모양의 비품으로 나눌 수 있습니다 (경사 잠금 원리에 의해 구성된 고정물을 참조). 이 고정물에는 광범위한 응용 프로그램이 있습니다. 예를 들어, 시트 모양 및 원형 샘플은 사용할 수 있습니다. 금속 및 비금속 재료가 사용되며, 클램프 타입 고정물 (단일 또는 양면 스레드 조임 원리로 구성된 고정 장치 참조), 와인딩 고정물 (와이어 인장 테스트, 권선 고정물과 같은 와이어 고정 장치와 같은 와이어 고정 장치와 같은 고정 고정 자화와 같은 고정 자화 자화와 같은 와이어 스타일 고정물과 같은 고정 자화와 같은 고정 장치) 레버 힘 증폭 원리 원리), 어깨 유형 고정물 (어깨 샘플에 적합한 고정구 참조), 볼트 타입 고정물 (볼트, 나사, 스터드 등에 적합한 고정구 참조, 스레드 강도를 테스트하는 90 ° 껍질을 벗기기 위해 적합한 샘플에 적합한 고정구 등) 등의 조정을 중지하는 데 적합한 고정 장치를 참조하십시오. (즉, 나사, 나사, 견과류), 베벨, 편심, 레버 등. 비품은 이러한 구조물의 조합입니다. 이 비품의 구조에는 고유 한 장점과 단점이 있습니다. 예를 들어, 쐐기 모양의 비품, 초기 클램핑 력은 작고 실험력의 증가에 따라 증가합니다.