전자 범용 테스트 기계의 변형 측정 소개

변형 소장기는 탄성 요소와 변형 게이지로 구성되어 있습니다. 신장계가 강제로 움직일 때 전자 범용 테스터는 탄성 몸체가 변형되어 변형 게이지의 저항 값이 변경되도록합니다. 원래 균형 브리지는 균형을 잃고 변형에 비례하는 전압 신호를 출력합니다. 신장계에 의한 전기 신호 출력은 매우 약하기 때문에 필요한 값에 도달하기 전에 증폭되어야합니다. 이 작업은 A/D 컨버터에 의해 완전히 증폭되고 변환 된 다음 처리를 위해 모 놀리 식 컴퓨터로 전송되며 직접 읽기 방식으로 표시됩니다. 전자 범용 테스터는 데이터 처리를 수행하기 위해 RS232를 통해 컴퓨터로 전송됩니다. 이 변형 단위 세트는 "코어로서 단일 칩 및 주변 회로가 적은 특성"의 특성을 가지므로,이 시스템은 높은 정확도, 우수한 안정성, 작은 선형 오차 및 강한 간섭 능력의 특성을 갖는다. 합리적인 디자인과 우수한 프로세스 레이아웃은 앰프를 매우 안정적으로 만듭니다. 호스트의 핵심으로서 증폭기에 연결된 모 놀리 식 컴퓨터 장치는 앰프 범위 변환, 데이터 수집, 데이터 전송, 전체 기계의 액정 디스플레이 및 직접 판독의 디지털 양자화를 담당합니다. 동시에, 이러한 데이터는 RS232 포트를 통해 출력 될 수 있으며 다른 장치의 지침은 RS232 포트를 통해 허용 될 수 있습니다.

전자 범용 테스트 머신은 단일 칩 컴퓨터 컨트롤을 채택하기 때문에이 장치는 자동으로 제로화하는 기능을 갖습니다. 제로 연결되면 전체 프로세스를 자동으로 지우려면 메인 인터페이스의 명확한 키만 눌러야하며 지우기 시간이 매우 짧습니다. 이 변형 단위 세트는 "코어로서 단일 칩 및 주변 회로가 적은 특성"의 특성을 가지므로,이 시스템은 높은 정확도, 우수한 안정성, 작은 선형 오차 및 강한 간섭 능력의 특성을 갖는다. 합리적인 디자인과 우수한 프로세스 레이아웃은 앰프를 매우 안정적으로 만듭니다.