유니버설 재료 테스트 머신에서 전도계의 구조적 원리

Extensometer는 다이얼 게이지와 Fulcrum으로 볼 힌지로 구성된 레버 메커니즘 세트로 구성됩니다. 손으로 볼 힌지 익스텐더 미터를 잡고 샘플을 게이지 포크에 넣고 뾰족한 나사로 시편을 클램핑하여 상단 및 하단 게이지 포크와 시편을 통합합니다. 장력의 작용하에, 샘플은 길쭉한 ΔL이다. 샘플의 변형 동안, 상부 게이지 거리 포크는 회전하지 않는 반면, 하부 게이지 거리 포크는 볼 힌지의 작용으로 인해 약간의 각도로 회전한다. 볼 힌지 중앙에서 다이얼 게이지로드의 축까지의 거리는 볼 힌지 중심에서 샘플 축까지의 거리의 2 배입니다. 따라서 다이얼 게이지의 변형 판독 값은 게이지 거리 내에서 시편 축의 길이의 두 배입니다. 다이얼 게이지의 배율은 1000이기 때문에, 신장 전계의 배율은 2000입니다. 즉, 볼 링 된 Extensometer Dial 게이지가 하나의 그리드를 움직일 때 샘플은 1/2000mm로 늘어납니다.

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