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재료 테스트 기계의 파티션에 대한 신중한 이해

출시 시간:2018-11-23 원천:Jinan Hengsi Shanda Instrument Co., Ltd. 먹다:


기술의 지속적인 개발로 다양한재료 테스트 기계끝없는 출현이 있습니다. 다음은 Jinan Hengsi Shanda Instrument Co., Ltd.의 재료 테스트 기계 부서에 대한 자세한 소개입니다.
재료 테스트 머신은 준비하여 넓은 측정 범위를 얻을 수 있습니다.
분석은 13 비트 A/D를 사용하여 7 단 범위의 스위칭이 수행되는 상황과 18 비트 A/D가 나뉘 지 않는 상황에 대해 수행됩니다. 일반적으로 테스트 기계의 등급은 전체 스케일의 100%, 50%, 20%, 10%, 5%, 2%및 1%로 나뉩니다. 13 비트 A/D를 사용하는 테스트 머신의 경우 각 기어의 해상도는 각 기어의 전체 값의 ± 1/4095입니다 (양방향 풀 및 가압은 양방향으로 4095 카피로 나뉩니다). 표준에 따르면, 작은 효과적인 측정 시작점의 샘플링 코드는 400 개의 코드에 도달해야합니다. 즉, 각 기어의 전체 값의 약 10%입니다. 위의 원리에 따르면, 분할 기어를 사용하는 테스트 기계의 작은 기어의 효과적인 측정 값은 1%× 10%= 0.1%이며 각 기어 간의 중첩은 각 기어의 전체 값의 10%보다 크기 때문에 총 효과적인 측정 범위는 0.1%-100%에 도달 할 수 있습니다. 18 비트 A/D가 나뉘어지지 않은 경우 해상도는 전체 값의 ± 1/131072입니다. 작은 효과적인 측정 지점에 따르면, 샘플링 코드는 400 개의 코드의 요구 사항에 도달해야하며, 작은 점은 (400/131072) × 100% = 전체 값의 0.3%입니다.
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이것은 단지 테스트 머신의 상대적 정확도 정의의 요구 사항을 충족합니다. 우리 모두 알다시피, 테스트 머신의 테스트 데이터는 다양한 센서에서 나오고 현재 센서는 기본적으로 아날로그 센서이며 출력 신호는 매우 약합니다. 이 신호는 후 처리를 위해 A/D 컨버터에 의해 디지털 수량으로 전송되기 전에 증폭기에 의해 증폭되어야합니다. 등급의 본질은 통합 세트 값에 대한 다른 증폭에 따라 다른 범위를 나타내는 센서 출력 신호 (물론 출력 값도 다릅니다)를 증폭 시키고이 통합 세트 값을 사용하여 다른 범위를 나타냅니다. 하중을 예로 들어보십시오 :로드 센서의 전체 값 출력이 20MV이고 125 배의 증폭 후 A/D 컨버터의 전체 값 입력이 2.5V 인 경우 2.5V는로드 범위의 전체 값 범위를 나타냅니다. 증폭 계수가 10 비트로 증가하고 1250 배가되면 센서가 전체 값의 1/10, 즉 증폭기의 출력이 여전히 2.5V의 A/D 변환기의 전체 값 입력에 도달하며 이번에는로드 범위가 전체 값의 1/10에 도달합니다. 앰프 및 센서의 작동 전원 공급 장치는 다양한 전자 구성 요소로 구성되므로 필연적으로 다양한 오프셋과 드리프트가 있습니다. 회로가 결정되면, 이러한 오프셋과 드리프트는 또한 그것에 의존하며, 기본적으로 증폭 계수의 변화에 ​​따라 변하지 않습니다. 즉, 앰프의 전체 값 출력은 2.5V입니다. 하나는 두 부분으로 구성되고, 하나는 실제 측정 된 값을 실제로 반영하고, 다른 하나는 기본적으로 일정하게 고유 한 값입니다. 작은 기어가 선택되면,이 고유 한 값에 해당하는 측정 된 값은 기어 비율에 비례하여 감소합니다. 예를 들어 : 2.5V가 100N에 해당하면 0.1V의 고유 오프셋 및 드리프트는 100 × (0.1/2.5) = 4N의 오차를 생성합니다. 그러나 1/10 기어가 선택되면, 즉 2.5V가 10N에 해당 할 때, 0.1V의 고유 오프셋 및 드리프트는 10 × (0.1/2.5) = 0.4n의 오차 만 생성합니다. 비닝이 분할되지 않으면 측정 된 데이터 값이 크든 작든 100 × (0.1/2.5) = 4N에 관계 없이이 고유 오류는 변하지 않습니다. 이는 작은 신호를 측정하는 데 도움이되지 않습니다.
테스트 머신의 정확도에는 상대 정확도가 필요 하므로이 정확도는 다른 측정 값에서 다른 허용 오차를 갖습니다. 측정 값이 크면 허용 오차 값이 크고 측정 값이 작을 때 허용 오차 값이 작습니다. 예를 들어, 동일한 레벨의 부하 값이 0.5 인 경우 측정 값이 100N 인 경우 오차 값은 100 × 0.5%= 0.5N이고 측정 된 값이 10N 인 경우 오차 값은 10 × 0.5%= 0.05N입니다. 등급의 특성은이 요구 사항과 정확히 일치합니다.
2, 재료 테스트 머신등급은 센서의 요구 사항을 줄이고 전체 기계의 정확도와 신뢰성을 향상시킬 수 있습니다.이것은 일부 특수 목적 테스트 기계에서 매우 중요합니다. 일반적인 테스트 기계의 샘플링 속도는 그다지 높지 않으며, 이는 초당 수십 ~ 수백 번 정도입니다. 그러나 충돌 테스트, 충격 테스트 및 취성 재료 테스트와 같은 일부 특별한 목적 경우에 필요한 샘플링 속도는 매우 높으며 초당 수천에서 몇 메가 바이트 범위입니다. 등급 테스트 머신은 일반적으로 더 낮은 자릿수의 A/D를 선택하기 때문에 이러한 유형의 A/D와 광범위한 선택에 여러 유형의 A/D가 있습니다. 병렬 변환 구조를 갖는 A/D 유형이 있으며,이 경우에 매우 적합합니다. 미지급 된 테스트 기계의 경우, 고 위치 A/D가 사용되기 때문에,이 유형의 A/D는 기본적으로 ∑- △ 유형 변환기를 사용하고, 이러한 유형의 변환기의 변환율은 상대적으로 낮으며 변환율이 증가하면 변환 정확도가 크게 줄어 듭니다.
3, 고속 샘플링은 달성하기 쉽습니다.이것은 일부 특수 목적 테스트 기계에서 매우 중요합니다. 일반적인 테스트 기계의 샘플링 속도는 그다지 높지 않으며, 이는 초당 수십 ~ 수백 번 정도입니다. 그러나 충돌 테스트, 충격 테스트 및 취성 재료 테스트와 같은 일부 특별한 목적 경우에 필요한 샘플링 속도는 매우 높으며 초당 수천에서 몇 메가 바이트 범위입니다. 등급 테스트 머신은 일반적으로 더 낮은 자릿수의 A/D를 선택하기 때문에 이러한 유형의 A/D와 광범위한 선택에 여러 유형의 A/D가 있습니다. 병렬 변환 구조를 갖는 A/D 유형이 있으며,이 경우에 매우 적합합니다. 미지급 된 테스트 기계의 경우, 고 위치 A/D가 사용되기 때문에,이 유형의 A/D는 기본적으로 ∑- △ 유형 변환기를 사용하고, 이러한 유형의 변환기의 변환율은 상대적으로 낮으며 변환율이 증가하면 변환 정확도가 크게 줄어 듭니다.
4, 등급은 전체 규모 내에서 일관되지 않은 해상도를 유발합니다.
이것은 문제 인 것 같지만 두 번째 항목에서 논의되었습니다.테스트 머신국가 표준의 관점에서, 국가 표준은 상대적 정확도를 규정하고 있으며, 이는 작은 기어의 높은 해상도와 대형 기어의 낮은 해상도가 필요하므로 대부분의 용도에 문제가되지 않습니다. 예를 들어, 석탄 자동차의 무게는 무게가 몇 톤 또는 몇 그램의 무게를 지정할 필요가 없으며 금의 무게는 수천 분의 1 그램에 도달해야합니다.
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