제어에 참여할 때 재료 테스터 비닝을 배치 할 때 발생할 수있는 문제

재료 테스트 기계등급 과정에서 제어 작업 중에 테스트 머신에서 일부 문제가 발생하여 기계 테스트 작업 중에 사용하기가 어렵습니다.

현재, 재료의 다양 화로 인해 점점 더 많은 테스트 방법이 필요하며 테스트 기계의 제어 방법에 대한 점점 더 많은 요구 사항이 필요합니다. 예를 들어 : 중합체 재료가 필요합니다테스트 머신속도 제어의 경우 건축 자재가 부하 제어가 필요하고 금속 재료는 부하 또는 변형 제어가 필요합니다. 건물 부품에는 가속 제어가 필요할 수 있습니다. 자동 제어 이론에서 폐쇄 루프 시스템 내의 링크의 매개 변수가 변경되면 전체 폐쇄 루프 시스템의 작동 상태가 변경되면 시스템이 정상적으로 작동하지 않습니다. 시스템이 안정적으로 작동하도록하려면 일부 제어 매개 변수 (일반적으로 P.I.D 매개 변수)를 제 시간에 조정해야합니다. 이동은 폐쇄 루프 시스템 내부의 증폭 비율을 변경하는 것이며, 이는 필연적으로 전체 시스템의 작동 상태의 변화로 이어질 것입니다. 즉, 기어를 이동 한 후 P.I.D 매개 변수를 현재 기어에 적합한 값으로 전환해야합니다. 그러나 문제는 기어 위치 외에도이 매개 변수 값도 샘플과 관련이 있으며 샘플이 끊임없이 변화하고 있으므로 특정 크기를 미리 결정할 수 없다는 것입니다. 또한 기어를 이동시 제어 변동이 발생하여 테스트 결과에 영향을 미칩니다. 과거에는 높은 A/D를 사용할 수 없었기 때문에 데이터 수집이 주요 모순 이었으므로 채점은 여전히 ​​다중 공인 루프 테스트 기계에 사용되었습니다. 그러나 일반적으로 3 단계로 나뉘어져 있으며 사용하기가 매우 귀찮습니다. 이제 높은 수준의 A/D의 문제가 해결되었으며 쉽게 사용하는 것이 고려해야 할 문제가되었습니다. 따라서 일반적으로 말하면, 비 단계 기술은 기본적으로 다중 공인 루프 테스트 기계에 채택됩니다.

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